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Long-Term Reliability of Nanometer VLSI Systems
EISBN：
9783030261726
PISBN：
9783030261719
出版社：
Springer International Publishing
出版类型：
Monograph
出版时间：
2019
版次：
1st ed. 2019
作者：
Sheldon Tan,Mehdi Tahoori,Taeyoung Kim,Shengcheng Wang,Zeyu Sun,Saman Kiamehr
主题词：
Physics,Electronic Circuits and Devices,Circuits and Systems,Processor Architectures
语种：
英语
所属数据库：
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