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Long-Term Reliability of Nanometer VLSI Systems
EISBN:
9783030261726
PISBN:
9783030261719
出版社:
Springer International Publishing
出版类型:
Monograph
出版时间:
2019
版次:
1st ed. 2019
作者:
Sheldon Tan,Mehdi Tahoori,Taeyoung Kim,Shengcheng Wang,Zeyu Sun,Saman Kiamehr
主题词:
Physics,Electronic Circuits and Devices,Circuits and Systems,Processor Architectures
语种:
英语
所属数据库:
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