登录
 机构网站
  1. 首页
  2. 馆藏纸本
  3. 图书详情
...

硅单晶及硅片电阻率测定方法－－－四探针法
出版年：1995
资源类型：图书
细分类型：中文文献
4浏览量
 馆际互借
访问借阅管理系统
相关推荐
...

硅单晶电阻率测定方法
  • 作者：信息产业部专用材料质量监督检验中心
  • 出版社：中国标准出版社
  • 出版年：2009
...

锗单晶电阻率直流四探针测量方法
  • 作者：北京国晶辉红外光学科技有限公司，云南临沧金圆锗业股份有限公司
  • 出版社：中国标准出版社
  • 出版年：2010
...

四探针电阻率测试仪JJG508-87
  • 作者：中华人民共和国国家计量检定规程
  • 出版社：国家计量局
  • 出版年：1988
...

直流四探针电阻率测试仪通用技术条件
  • 作者：北京建中机器厂和中国计量科学研究院负责起草
  • 出版社：机械电子工业部电子标准化研究所出版
  • 出版年：1992
...

硅外延层、扩散层和离子注入层薄层电阻的测定 直排四探针法
  • 作者：宁波立立电子股份有限公司
  • 出版社：中国标准出版社
  • 出版年：2010
...

精细陶瓷热电材料测定方法——第2部分：电阻率
  • 出版社：日本工业标准调查会
  • 出版年：2003