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Recent advances in metrology characterization and standards for optical digital data disks : 21-22
出版社：Bellingham, Wash. : SPIE, c1999.
ISBN：081943292X
出版年：1999
作者：Society of Photo-optical Instrumentation Engineers.
资源类型：图书
细分类型：西文文献
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Recent adavances in metrology, characterization, and standards for optical digital data disks
  • 作者：SPIE.
  • ISBN：081943292X
  • 出版社：Bellingham : SPIE, 1999.
  • 出版年：1999
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Metrology of optoelectronic systems : 21-22 May 1987, Orlando, Florida
  • 作者：Granger,Edward M.
  • ISBN：0892528117
  • 出版社：Bellingham, Wash., USA : SPIE, c1987.
  • 出版年：1987
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Controls for optical systems : 21-22 April 1992, Orlando, Florida
  • 作者：Breakwell,John,
  • ISBN：0819408611
  • 出版社：Bellingham, Wash. : SPIE, c1992.
  • 出版年：1992
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Trends in optical fibre metrology and standards
  • 作者：NATO Advanced Study Institute on Trends in Optical Fibre Metrology and Standards
  • ISBN：0792334027
  • 出版社：Dordrecht ; Boston : Kluwer Academic Publishers, c1995.
  • 出版年：1995
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Machine vision systems for inspection and metrology VIII : 21-22 Sept., 1999, Boston, Mass.
  • 作者：Batchelor,Bruce G.,
  • ISBN：0819434299
  • 出版社：Bellingham, Wash. : SPIE, c1999.
  • 出版年：1999
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Nanobiosystems : processing, characterization, and applications IV : 21-22 August 2011, San Diego, C
  • 作者：Kobayashi,Norihisa.
  • ISBN：0819487139
  • 出版社：Bellingham, Wash. : SPIE, c2011.
  • 出版年：2011