半导体封装测试制造系统运行优化理论与技术

半导体封装测试制造系统运行优化理论与技术

出版社：武汉大学出版社

ISBN：9787307190344

出版年：2017

作者：倪妍婷

学科：电技术、电子技术

资源类型：图书

细分类型：中文文献

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