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Quantitative analysis with electron microprobes and secondary ion mass spectrometry:/ Meeting held o
出版社：
KFA 1973
出版年：
1973
作者：
Edited by E. Preuss
资源类型：
图书
细分类型：
西文文献
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Quantitative analysis with electron microprobes and secondary ion mass spectrometry:/ Meeting held o
作者：
Edited by E. Preuss
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KFA 1973
出版年：
1973
Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS Ⅱ
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International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry
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3540098437
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Secondary ion mass spectrometry : an introduction to principles and practices
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Van der Heide,Paul,
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9781118480489
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Hoboken, New Jersey : John Wiley & Sons, Inc., [2014].
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2014
Secondary ion mass spectrometry of solid surfaces
作者：
Cherepin,V.T.
ISBN：
9067640786
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Berlin : Springer, 1987
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1987
Cluster secondary ion mass spectrometry : principles and applications
作者：
Mahoney,Christine M.,
ISBN：
9780470886052
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Hoboken, New Jersey : John Wiley & Sons, Inc., c2013.
出版年：
2013
Secondary ion mass spectrometry : SIMS VI : proceedings of the International Conference on Secondary
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Benninghoven,A.
ISBN：
0471918326 747.25
出版社：
Chichester : Wiley, c1988
出版年：
1988
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