登录
 机构网站
  1. 首页
  2. 馆藏纸本
  3. 图书详情
...

Optical metrology roadmap for the semiconductor optical and data storage industries II : 2-3 Augus
出版社：Bellingham, Washington : SPIE, c2001.
ISBN：0819441635
出版年：2001
作者：Optical Metrology Roadmap for the Semiconductor,Optical,and Data Storage Industries Conference
资源类型：图书
细分类型：西文文献
1浏览量
 馆际互借
访问借阅管理系统
相关推荐
...

Optical metrology roadmap for the semiconductor, optical , and data storage industries
  • 作者：Al-Jumaily,G. A.
  • ISBN：0819437441
  • 出版社：Bellingham : SPIE, 2000.
  • 出版年：2000
...

Optical metrology roadmap for the semiconductor, optical, and data storage industries : 30-31 July 2
  • 作者：Al-Jumaily,Ghanim A.
  • ISBN：0819437441
  • 出版社：Bellingham, Wash. : SPIE, c2000.
  • 出版年：2000
...

Tribute to James C. Wyant : the extraordinaire in optical metrology and optics education : 2-3 Augus
  • 作者：Mahajan,Virendra N.,
  • ISBN：9781510644649
  • 出版社：Bellingham, Washington : SPIE, 2021.
  • 出版年：2021
...

Three-dimensional imaging, optical metrology, and inspection IV : 2-3 Nov. 1998, Boston, Mass.
  • 作者：Harding,Kevin G.,
  • ISBN：0819429813
  • 出版社：Bellingham, Wash. : SPIE, c1998.
  • 出版年：1998
...

An optical believe it or not : key lessons learned II : 2-3 August 2010, San Diego, California, Unit
  • 作者：Kahan,Mark A.
  • ISBN：9780819482921
  • 出版社：Bellingham, Wash. : SPIE, c2010.
  • 出版年：2010
...

Gradient index, miniature, and diffractive optical systems II : 2-3 August 2001, San Diego, USA
  • 作者：Suleski,Thomas J.,
  • ISBN：0819441511
  • 出版社：Bellingham, Wash. : SPIE, c2001.
  • 出版年：2001