可修退化系统的可靠性研究

出版社:科学出版社
ISBN:9787030603289
出版年:2022
作者:赵志欣
学科:数学
资源类型:图书
细分类型:中文文献
相关推荐

系统退化和系统可靠性研究

  • 作者:姚增起
  • 出版年:1988

空间辐射环境下SiC MOSFET的长期可靠性退化机理研究

  • 作者:梁晓雯
  • 出版社:中国科学院新疆理化技术研究所
  • 出版年:2023

半导体器件及电路的可靠性与退化

  • 作者:豪斯
  • ISBN:7030011643
  • 出版社:科学出版社
  • 出版年:1989

基于退化的可靠性技术 :模型、方法及应用

  • 作者:金光
  • ISBN:9787118096071
  • 出版社:国防工业出版社
  • 出版年:2014

可修复系统的可靠性分析

  • 作者:祝硕
  • 出版年:2012

可靠性分析的计数过程 :冲击和可修系统 :shocks and repairable systems

  • 作者:金焕查
  • ISBN:9787118125610
  • 出版社:国防工业出版社
  • 出版年:2022