登录
机构网站
切换导航
首页
到馆服务
学科服务
研究支持
情报产品
数据资源
科学传播
关于我们
首页
馆藏纸本
图书详情
考虑缺陷关联的软件可靠性增长模型研究
出版社:
中国科学院
出版年:
2007
作者:
张荣辉
资源类型:
图书
细分类型:
中文文献,学位论文
1浏览量
问图书管理员
馆际互借
点赞
收藏
访问借阅管理系统
分享
相关推荐
软件可靠性模型的研究及应用
作者:
朱新根
出版年:
1992
可靠性增长
作者:
周源泉
ISBN:
7030025075
出版社:
科学出版社
出版年:
1992
软件可靠性模型及应用
作者:
徐仁佐
ISBN:
7302013322
出版社:
清华大学出版社
出版年:
1994
质量可靠性增长与评定方法
作者:
周源泉
ISBN:
7810127179
出版社:
北京航空航天大学出版社
出版年:
1997
可靠性增长试验
作者:
梅文华
ISBN:
7118031119
出版社:
国防工业出版社
出版年:
2003
电器可靠性评价与可靠性增长
作者:
陆俭国
ISBN:
9787030599377
出版社:
科学出版社
出版年:
2019
×
访问借阅管理系统