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2010 19th IEEE Asian Test Symposium (ATS 2010) : Shanghai China 1-4 December 2010.
出版社：
Los Alamitos, Calif. : IEEE Computer Society, c2010.
ISBN：
9781424488414
出版年：
2010
作者：
Asian Test Symposium
资源类型：
图书
细分类型：
西文文献
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ISBN：
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出版社：
Piscataway, N.J. : IEEE, c2010.
出版年：
2010
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