短沟道MOSFET的高频噪声机理分析与表征

出版社:科学出版社
ISBN:9787030663009
出版年:2020
作者:王军
学科:电技术、电子技术
资源类型:图书
细分类型:中文文献
相关推荐

短沟道硅基氮化镓射频器件关键技术研究

  • 作者:李敏
  • 出版社:中国科学院上海微系统与信息技术研究所
  • 出版年:2023

Si基高迁移率InGaAs沟道MOSFET器件研究

  • 作者:孔祥挺
  • 出版年:2017

高迁移率InGaAs沟道MOSFET器件研究

  • 作者:常虎东
  • 出版年:2013

双定向沟道效应分析技术及其应用

  • 作者:杨根庆
  • 出版年:1984