登录
 机构网站
  1. 首页
  2. 馆藏纸本
  3. 图书详情
...

Hot carrier degradation in semiconductor devices
出版社：Cham : Springer, 2015.
ISBN：9783319089935
出版年：2015
作者：Grasser,Tibor,
资源类型：图书
细分类型：西文文献
4浏览量
 馆际互借
访问借阅管理系统
相关推荐
...

Hot carrier design considerations for MOS devices and circuits
  • 作者：Wang,Cheng T.
  • ISBN：0442001215
  • 出版社：New York : Van Nostrand Reinhold, c1992.
  • 出版年：1992
...

Reliability and degradation : semiconductor devices and circuits
  • 作者：Howes,M. J.
  • ISBN：0471280283
  • 出版社：Chichester ; New York : J. Wiley, c1981.
  • 出版年：1981
...

Hot-carrier reliability of MOS VLSI circuits
  • 作者：Leblebici,Yusuf.
  • ISBN：079239352X
  • 出版社：Boston : Kluwer Academic Pub., c1993.
  • 出版年：1993
...

Semiconductor devices :
  • 出版社：New York : Holt,Rinehart and Winston, 1961.
  • 出版年：1961
...

Semiconductor devices
  • 作者：S M SZE
  • ISBN：0471874248
  • 出版社：1985.01
...

semiconductor devices
  • 出版社：1972.01