绝缘介质损耗与带电测试

绝缘介质损耗与带电测试

出版社：安徽科学技术出版社

ISBN：7533701577

出版年：1988

作者：汪宏正

学科：电技术、电子技术

资源类型：图书

细分类型：中文文献

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