基于光折变效应的干涉式X射线超快诊断机理与实验研究

基于光折变效应的干涉式X射线超快诊断机理与实验研究

出版社：中国科学院西安光学精密机械研究所

出版年：2025

作者：王刚

资源类型：图书

细分类型：学位论文

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