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Design for testability debug and reliability : next generation measures using formal techniques
出版社:
Cham : Springer, 2021.
ISBN:
9783030692087
出版年:
2021
作者:
Huhn,Sebastian,
资源类型:
图书
细分类型:
西文文献
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ISBN:
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Furtado,A. L.
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Berlin : Springer, 1986.
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9780124166295
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