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18th IEEE VLSI Test Symposium 30 Apr.-4 May 2000 Montreal Quebec Canada
出版社：Los Alamitos, Calif. : IEEE Computer Society, c2000.
ISBN：0769506135
出版年：2000
作者：IEEE VLSI Test Symposium
资源类型：图书
细分类型：西文文献
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  • ISBN：9781424428885
  • 出版社：Piscataway, N.J. : Electron Device Society and Reliability Society of IEEE, c2009.
  • 出版年：2009