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Testing''s impact on design & technology : proceedings
出版社：
Wash. : IEEE Computer Society Pr., c1986
ISBN：
0818607262 60.30
出版年：
1986
作者：
International Test Conference
资源类型：
图书
细分类型：
西文文献
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Testing''s impact on design & technology : proceedings
作者：
International Test Conference
ISBN：
0818607262
出版社：
Wash. : IEEE Computer Society Pr., c1986
出版年：
1986
Testing''s impact on design & technology : International Test Conference, 1986, proceedings, Septembe
作者：
International Test Conference
ISBN：
0818607262
出版社：
Washington, D.C. : IEEE Computer Society Press, c1986.
出版年：
1986
International Workshop on Memory Technology, Design and Testing : proceedings
作者：
IEEE International Workshop on Memory Technology,Design and Testing
ISBN：
0818680997
出版社：
Los Alamitos, Calif. : IEEE Computer Society Press, c1997.
出版年：
1997
Proceedings of the 2002 IEEE International Workshop on Memory Technology, Design and Testing : (MTDT
作者：
IEEE International Workshop on Memory Technology,Design and Testing
ISBN：
0769516173
出版社：
Los Alamitos, Calif. : IEEE Computer Society, c2002.
出版年：
2002
Proceedings of 2007 IEEE International Workshop on Memory Technology, Design, and Testing : (MTDT''07
作者：
IEEE International Workshop on Memory Technology,Design and Testing
ISBN：
9781424416561
出版社：
Piscataway : IEEE, c2007.
出版年：
2007
Proceedings : 2001 IEEE International Workshop on Memory Technology, Design, and Testing : Aug. 6-7,
作者：
IEEE International Workshop on Memory Technology,Design and Testing
ISBN：
0769512429
出版社：
Los Alamitos, Calif. : IEEE Computer Society Press, c2001.
出版年：
2001
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