登录
 机构网站
  1. 首页
  2. 馆藏纸本
  3. 图书详情
...

全芯片光源掩模优化图形筛选与坏点检测技术研究
出版社：中国科学院上海光学精密机械研究所
出版年：2023
作者：廖陆峰
资源类型：图书
细分类型：学位论文
1浏览量
 馆际互借
访问借阅管理系统
相关推荐
...

全芯片光源掩模优化关键图形筛选技术研究
  • 作者：杨欣华
  • 出版社：中国科学院上海光学精密机械研究所
  • 出版年：2023
...

基于机器学习的芯片级版图热点检测技术研究
  • 作者：李仲
  • 出版社：中国科学院大学微电子学院
  • 出版年：2018
...

先进节点中的版图坏点检测研究
  • 作者：盖天祥
  • 出版社：中国科学院微电子研究所
  • 出版年：2019
...

基于Verilog的芯片设计安全检测及增强技术研究
  • 作者：苏钰
  • 出版社：中国科学院大学计算机科学与技术学院
  • 出版年：2021
...

芯片级电路故障检测技术研究
  • 作者：张云峰
  • 出版年：2001
...

密码芯片侧信道分析与检测技术研究
  • 作者：杨威
  • 出版年：2017