电读出非制冷红外焦平面阵列自测试及自校准关键技术研究

电读出非制冷红外焦平面阵列自测试及自校准关键技术研究

出版社：中国科学院微电子研究所

出版年：2022

作者：侯影

资源类型：图书

细分类型：学位论文

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