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聚合物表面分析 :X射线光电子谱（XPS)和静态次级离子质谱（SSIMS）
出版社：化学工业出版社
ISBN：7502533974
出版年：2001
作者：布里格斯
学科：化学工业
资源类型：图书
细分类型：中文文献
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