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The three faces of test : design characterization production : International Test Conference 1984
出版社：Silver Spring, MD : IEEE Computer Society Press, c1984.
ISBN：0818605480
出版年：1984
作者：International Test Conference
资源类型：图书
细分类型：西文文献
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International test conference 2000
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Discover the new world of test and design : International Test Conference 1992 proceedings : Septemb
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  • ISBN：0780307607
  • 出版社：Altoona, PA : The Conference ; Piscataway, NJ : Can be ordered from IEEE Service Center, c1992.
  • 出版年：1992
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Proceedings International Test Conference, 1991
  • 作者：International Test Conference
  • ISBN：0818691565
  • 出版社：Los Alamitos, California : IEEE Service Center, c1991
  • 出版年：1991