登录
机构网站
切换导航
首页
到馆服务
学科服务
研究支持
情报产品
数据资源
科学传播
关于我们
首页
馆藏纸本
图书详情
Digest of papers : 1977 Semiconductor Test Symposium Memory & LSI
出版社：
New York : IEEE, c1977.
出版年：
1977
作者：
Semiconductor Test Symposium
资源类型：
图书
细分类型：
西文文献
1浏览量
问图书管理员
馆际互借
点赞
收藏
访问借阅管理系统
分享
相关推荐
Digest of papers 1977 semiconductor test symposium memory & LSI
作者：
John E. Bauer
出版社：
1977.11
Digest of papers : 1977 Semiconductor Test Symposium Memory & LSI
作者：
Semiconductor Test Symposium
ISBN：
RMB3.00
出版社：
New York : IEEE, c1977.
出版年：
1977
Digest of papers : 1977 Semiconductor Test Symposium, memory & LSI, Oct. 25-27, 1977 held at Cherry
作者：
Institute of Electrical and Electronics Engineers.
出版社：
New York : IEEE Computer Society, c1977.
出版年：
1977
Memory and LSI : 1977 Semiconductor Test Symposium, digest of papers, Oct. 25-27, 1977.
作者：
Institute of Electrical and Electronics Engineers
ISBN：
0000000000
出版社：
New York : Cherry Hill, 1977.
出版年：
1977
Semiconductor test Conference LSI & BOARDS.
作者：
IEEE.
ISBN：
CNY 5.90
出版社：
USA., Institute of electrical., 1979.
出版年：
1979
1978 semiconductor test conference: lsi & boards.
作者：
IEEE Computer Society.
出版社：
California: IEEE, 1978.
出版年：
1978
×
访问借阅管理系统
问图书管理员
馆际互借