PD SOI IO器件总剂量及TDDB效应研究

出版社:中国科学院上海微系统与信息技术研究所
出版年:2024
作者:贾雨鹏
资源类型:图书
细分类型:学位论文
相关推荐

SOI器件总剂量效应与可靠性研究

  • 作者:刘春媚
  • 出版社:中国科学院上海微系统与信息技术研究所
  • 出版年:2023

双层SOI器件的总剂量辐射效应与热载流子效应研究

  • 作者:汪子寒
  • 出版社:中国科学院上海微系统与信息技术研究所
  • 出版年:2023

SOI FinFET器件总剂量效应表征与建模

  • 作者:张旭
  • 出版社:中国科学院微电子研究所
  • 出版年:2023