登录
机构网站
切换导航
首页
到馆服务
学科服务
研究支持
情报产品
数据资源
科学传播
关于我们
首页
馆藏纸本
图书详情
Nanometer variation-tolerant SRAM : circuits and statistical design for yield
出版社:
New York : Springer, 2013.
ISBN:
9781461417484
出版年:
2013
作者:
Abu-Rahma,Mohamed H.
资源类型:
图书
细分类型:
西文文献
1浏览量
问图书管理员
馆际互借
点赞
收藏
访问借阅管理系统
分享
相关推荐
Yield-aware analog IC design and optimization in nanometer-scale technologies
作者:
Canelas,António Manuel Lourenço,
ISBN:
9783030415358
出版社:
Cham : Springer, 2020.
出版年:
2020
Yield-aware analog IC design and optimization in nanometer-scale technologies
作者:
Canelas,António Manuel Lourenço
ISBN:
9783030415365
出版年:
2020
Design of systems and circuits for maximum reliability or maximum production yield
作者:
Becker,Peter W.
ISBN:
0070042306
出版社:
New York : McGraw-Hill, c1977.
出版年:
1977
Radio design in nanometer technologies
作者:
Ismail,Mohammed.
ISBN:
1402048238
出版社:
Dordrecht, The Netherlands : Springer, c2006.
出版年:
2006
Fault tolerant system design
作者:
Levi,Shem-Tov.
ISBN:
0070375151 CNY524.10
出版社:
New York : McGraw-Hill, c1994.
出版年:
1994
Fault tolerant system design
作者:
Levi,Shem-Tov.
ISBN:
0070375151
出版社:
New York : McGraw-Hill, c1994.
出版年:
1994
×
访问借阅管理系统