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Scanning microscopy 2010 : 17-19 May 2010 Monterey California United States
出版社：Bellingham, Wash : SPIE, c2010.
ISBN：9780819482174
出版年：2010
作者：Postek,Michael T.
资源类型：图书
细分类型：西文文献
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Scanning microscopy 2010 : 17-19 May 2010, Monterey, California, United States
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  • 出版社：Bellingham, Wash : SPIE, c2009.
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Photomask technology 2010 : 13-16 September 2010, Monterey, California, United States.
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  • 出版社：Bellingham, Wash. : SPIE, c2010.
  • 出版年：2010