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X rays in materials analysis : novel applications and recent developments : 21-22 August 1986 San D
出版社：Bellingham, Wash., USA : SPIE--the International Society for Optical Engineering, c1986.
ISBN：0892527250
出版年：1986
作者：Rusch,Thomas William.
资源类型：图书
细分类型：西文文献
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