相关推荐

高密度电子封装可靠性研究

  • 作者:彩霞
  • 出版年:2002

高密度3DNAND存储器可靠性研究

  • 作者:宋璧若
  • 出版社:中国科学院微电子研究所
  • 出版年:2022

机械可靠性设计

  • 作者:刘混举
  • ISBN:9787118059373
  • 出版社:国防工业出版社
  • 出版年:2009