登录
机构网站
切换导航
首页
到馆服务
学科服务
研究支持
情报产品
数据资源
科学传播
关于我们
首页
馆藏纸本
图书详情
数字系统测试和可测试性设计
出版社:
机械工业出版社
ISBN:
9787111501541
出版年:
2015
作者:
纳瓦比
学科:
电技术、电子技术
资源类型:
图书
细分类型:
中文文献
1浏览量
问图书管理员
馆际互借
点赞
收藏
访问借阅管理系统
分享
相关推荐
数字系统测试及可测试性设计
作者:
向东
ISBN:
7030056175
出版社:
科学出版社
出版年:
1997
数字系统测试和可测性设计
作者:
〔美〕Miron Abramovici等编著
ISBN:
7302077479
出版社:
清华大学出版社
出版年:
2004
数字系统测试与可测试设计
作者:
阿布拉莫维奇
ISBN:
7111192370
出版社:
机械工业出版社
出版年:
2006
Digital systems testing and testable design = 数字系统测试和可测性设计
作者:
Abramovici,Miron.
ISBN:
7302077479
出版社:
北京 : 清华大学出版社, 2004.
出版年:
2004
数字系统测试与可测性
作者:
曾芷德
ISBN:
7810241958
出版社:
国防科技大学出版社
出版年:
1992
数字电路时滞可测试性设计研究
作者:
余小明
出版年:
1998
×
访问借阅管理系统