高分辩率X射线衍射测量GaAs衬底生长的AlGaAs中Al成分的试验方法

高分辩率X射线衍射测量GaAs衬底生长的AlGaAs中Al成分的试验方法

出版社：中国标准出版社

出版年：2009

作者：信息产业数部专用材料质量监督检验中心，中国电子科技集团公司第四十六

资源类型：图书

细分类型：中文文献

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