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Anomalous X-Ray Scattering for Materials Characterization :Atomic-Scale Structure Determination
出版社:
Springer
ISBN:
3540434437
出版年:
2002
作者:
Waseda,Y.
学科:
物理学
资源类型:
图书
细分类型:
中文文献
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Anomalous X-ray scattering for materials characterization : atomic-scale structure determination
作者:
Waseda,Yoshio.
ISBN:
3540434437
出版社:
New York : Springer, 2002.
出版年:
2002
On the atomic scattering factor for x-ray in the region of anomalous dispersion
作者:
Knol,Kornelis Swier.
出版社:
Groningen : Wolter Uitg. Maj., 1934.
出版年:
1934
Novel application of anomalous (resonance) X-ray scattering for structural characterization of disor
作者:
Waseda,Yoshio.
ISBN:
0387133593
出版社:
Berlin ; New York : Springer-Verlag, 1984.
出版年:
1984
Structure determination by X-ray crystallography
作者:
Palmer,R. A.
出版社:
New York 1977
出版年:
1977
Structure determination by x-ray crystallography
作者:
Ladd,M.
ISBN:
0306474530;
出版社:
New York: Kluwer Academic, 2003.
出版年:
2003
Structure determination by X-ray crystallography
作者:
Ladd,M. F. C.
ISBN:
0306442906
出版社:
New York : Plenum Press, c1993.
出版年:
1993
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