基于光场成像原理的微纳结构检测方法研究

出版社:中国科学院光电技术研究所
出版年:2019
作者:杨帆
资源类型:图书
细分类型:中文文献
相关推荐

基于散射光暗场显微的基片表面颗粒检测方法研究

  • 作者:艾立夫
  • 出版社:中国科学院光电技术研究所
  • 出版年:2019

微纳结构成像原理和方法研究

  • 作者:王彦钦
  • 出版年:2015

基于微纳结构集成式光场调控的高性能红外探测研究

  • 作者:李方哲
  • 出版社:中国科学院上海技术物理研究所
  • 出版年:2024

基于结构光的高光表面三维缺陷检测方法研究

  • 作者:吴科
  • 出版社:中国科学院自动化研究所
  • 出版年:2022

基于空间光场调制的微纳结构快速高度重建方法及应用

  • 作者:韩陈浩磊
  • 出版社:中国科学院光电技术研究所
  • 出版年:2023