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X-ray free-electron lasers : beam diagnostics beamline instrumentation and applications II : 18-19
出版社:
Bellingham, Wash. : SPIE--the International Society for Optical Engineering, c2014.
ISBN:
9871628412374
出版年:
2014
作者:
Hau-Riege,Stefan P.
资源类型:
图书
细分类型:
西文文献
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2017
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