登录
机构网站
切换导航
首页
到馆服务
学科服务
研究支持
情报产品
数据资源
科学传播
关于我们
首页
馆藏纸本
图书详情
Records of The 1993 IEEE International WORKSHOP ON MEMORY TESTING
出版社：
Los Alamitos: IEEE Computer Society Press, 1993.
ISBN：
0818641509
出版年：
1993
作者：
R.Rajsuman
资源类型：
图书
细分类型：
西文文献
1浏览量
问图书管理员
馆际互借
点赞
收藏
访问借阅管理系统
分享
相关推荐
Records of the IEEE International Workshop on Memory Technology,Design and Testing
作者：
R.Rajsuman
ISBN：
081866245X
出版社：
Los Alamitos: IEEE Computer Society Press, 1994.
出版年：
1994
MTDT 2004 : records of the 2004 IEEE International Workshop on Memory Technology, Design and Testing
作者：
IEEE International Workshop on Memory Technology,Design and Testing
ISBN：
0769521932
出版社：
Los Alamitos, Calif. : IEEE Computer Society, c2004.
出版年：
2004
Records of the 2000 IEEE International Workshop on Memory Technology, Design, and Testing, 7-8 Aug.
作者：
IEEE International Workshop on Memory Technology,Design and Testing
ISBN：
0769506895
出版社：
Los Alamitos, Calif. : IEEE Computer Society Press, c2000.
出版年：
2000
Records of the 1999 IEEE International Workshop on Memory Technology, Design and Testing : August 9-
作者：
IEEE International Workshop on Memory Technology,Design and Testing
ISBN：
0769502598
出版社：
Los Alamitos, Calif. : IEEE Computer Society, c1999.
出版年：
1999
Proceedings of the 2002 IEEE International Workshop on Memory Technology, Design and Testing : (MTDT
作者：
IEEE International Workshop on Memory Technology,Design and Testing
ISBN：
0769516173
出版社：
Los Alamitos, Calif. : IEEE Computer Society, c2002.
出版年：
2002
Records of the 2003 International Workshop on Memory Technology, Design and Testing : 28-29 July 200
作者：
IEEE International Workshop on Memory Technology,Design and Testing
ISBN：
0769520049
出版社：
Los Alamitos, Calif. : IEEE Computer Society, c2003.
出版年：
2003
×
访问借阅管理系统
问图书管理员
馆际互借