多线程程序中并发缺陷的动态分析

出版社:中国科学院软件研究所
出版年:2019
作者:朱碧云
资源类型:图书
细分类型:中文文献
相关推荐

Go程序并发缺陷检测方法

  • 作者:袁挺
  • 出版社:中国科学院计算技术研究所
  • 出版年:2023

典型并发缺陷的动态检测方法研究

  • 作者:叶慧敏
  • 出版社:中国科学院软件研究所
  • 出版年:2023

缺陷分析

  • 作者:尼柯尔斯(Nichols,R.W.)
  • ISBN:7111026853
  • 出版社:机械工业出版社
  • 出版年:1991

浮点数程序静态分析与缺陷检测

  • 作者:吴兴明
  • 出版年:2018

并发程序的自动分析与验证

  • 作者:龙震岳
  • 出版社:中国科学院
  • 出版年:2013