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Optical measurement systems for industrial inspection XI : at SPIE optical metrology : 24-27 June 20
出版社：Bellingham, Washington : SPIE, 2019.
ISBN：9781510627918
出版年：2019
作者：Lehmann,Peter.
资源类型：图书
细分类型：西文文献
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  • 出版社：Bellingham, Wash. : SPIE, 2009.
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