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2011 IEEE International Test Conference (ITC 2011) : Anaheim California USA 20-22 September 2011.
出版社：
Piscataway, N.J. : IEEE, c2011.
ISBN：
9781457701535
出版年：
2011
作者：
International Test Conference
资源类型：
图书
细分类型：
西文文献
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出版社：
Piscataway, N.J. : Institute of Electrical and Electronics Engineers, c2011.
出版年：
2011
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