光学邻近效应修正及其在掩模基板缺陷补偿方面的应用研究

出版社:中国科学院微电子研究所
出版年:2024
作者:吴睿轩
资源类型:图书
细分类型:学位论文
相关推荐

极紫外光刻掩模缺陷检测与补偿技术研究

  • 作者:成维
  • 出版社:中国科学院上海光学精密机械研究所
  • 出版年:2022

三维极紫外光刻掩模建模及缺陷补偿技术研究

  • 作者:张恒
  • 出版社:中国科学院上海光学精密机械研究所
  • 出版年:2019

基干机器视觉的表面缺陷检测技术及其应用研究

  • 作者:雷林建
  • 出版社:中国科学院上海技术物理研究所
  • 出版年:2022