登录
机构网站
切换导航
首页
到馆服务
学科服务
研究支持
情报产品
数据资源
科学传播
关于我们
首页
馆藏纸本
图书详情
Applied optical metrology
出版社:
Bellingham : SPIE, 1998.
ISBN:
0819428590
出版年:
1998
作者:
International Conference on Applied Optical Metrology
资源类型:
图书
细分类型:
西文文献
1浏览量
问图书管理员
馆际互借
点赞
收藏
访问借阅管理系统
分享
相关推荐
Optical metrology
作者:
Gåsvik,Kjell J.
ISBN:
9780470843000
出版社:
West Sussex, Eng. ; Hoboken, N.J. : J. Wiley & Sons, c2002.
出版年:
2002
Optical metrology
作者:
Gåsvik,Kjell J.
ISBN:
0471912468
出版社:
Chichester ; New York : Wiley, c1987.
出版年:
1987
Applied optical metrology III : at SPIE Optical Engineering + Applications : 13-15 August 2019, San
作者:
Novak,Erik.
ISBN:
9781510628977
出版社:
Bellingham, Washington : SPIE, 2019.
出版年:
2019
Applied advanced optical metrology solutions : 10-12 August 2015, San Diego, California, United Stat
作者:
Novak,Erik.
ISBN:
9781628417425
出版社:
Bellingham, Washington : SPIE, 2015.
出版年:
2015
International Conference on Applied Optical Metrology : 8-11 June 1998, Balatonfüred, Hungary
作者:
International Conference on Applied Optical Metrology
ISBN:
0819428590
出版社:
Bellingham, Wash., USA : SPIE, c1998.
出版年:
1998
Applied optical metrology IV : 1-5 August 2021, San Diego, California, United States
作者:
Novak,Erik,
ISBN:
9781510644724
出版社:
Bellingham, Washington : SPIE, 2021.
出版年:
2021
×
访问借阅管理系统