登录
机构网站
切换导航
首页
到馆服务
学科服务
研究支持
情报产品
数据资源
科学传播
关于我们
首页
馆藏纸本
图书详情
Ellipsometry at the nanoscale
出版社:
Berlin ; New York : Springer, c2013.
ISBN:
9783642339554
出版年:
2013
作者:
Losurdo,Maria.
资源类型:
图书
细分类型:
西文文献
1浏览量
问图书管理员
馆际互借
点赞
收藏
访问借阅管理系统
分享
相关推荐
Handbook of ellipsometry
作者:
Tompkins,Harland G.
ISBN:
0815514999
出版社:
Norwich, NY : William Andrew Pub. ; Heidelberg, Germany : Springer, c2005.
出版年:
2005
Spectroscopic ellipsometry for photovoltaics.
作者:
Fujiwara,Hiroyuki,
ISBN:
9783319951379
出版社:
Cham, Switzerland : Springer, 2018.
出版年:
2018
Spectroscopic ellipsometry for photovoltaics.
作者:
Fujiwara,Hiroyuki,
ISBN:
9783319753751
出版社:
Cham, Switzerland : Springer, 2018.
出版年:
2018
Spectroscopic ellipsometry : principles and applications
作者:
Fujiwara,Hiroyuki.
ISBN:
9780470016084
出版社:
Chichester, England ; Hoboken, NJ : John Wiley & Sons, c2007.
出版年:
2007
Ellipsometry for industrial applications
作者:
Riedling,Karl,
ISBN:
038782040X
出版社:
Wien ; New York : Springer-Verlag, c1988.
出版年:
1988
Ellipsometry and polarized light
作者:
Azzam,R. M. A.
ISBN:
0720406943
出版社:
Amsterdam ; New York : North-Holland Pub. Co. ; New York : sole distributors for the U.S.A. and Cana
出版年:
1977
×
访问借阅管理系统