光场光片荧光显微技术的深度信息获取研究

光场光片荧光显微技术的深度信息获取研究

出版社：中国科学院上海光学精密机械研究所

出版年：2022

作者：彭晓婷

资源类型：图书

细分类型：学位论文

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