40nm及以下节点高深度比接触孔电性稳定性控制研究

40nm及以下节点高深度比接触孔电性稳定性控制研究

出版社：中国科学院大学微电子学院

出版年：2019

作者：贺金鹏

资源类型：图书

细分类型：中文文献

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