基于分子模拟的典型绝缘材料介电特性研究

基于分子模拟的典型绝缘材料介电特性研究

出版社：西安交通大学出版社

ISBN：9787560599021

出版年：2017

作者：谢小军

资源类型：图书

细分类型：中文文献

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