登录
机构网站
切换导航
首页
到馆服务
学科服务
研究支持
情报产品
数据资源
科学传播
关于我们
首页
馆藏纸本
图书详情
SOI CMOS静态随机存储器总剂量辐射效应及评估技术的研究
出版年:
2011
作者:
李明
资源类型:
图书
细分类型:
学位论文
1浏览量
问图书管理员
馆际互借
点赞
收藏
访问借阅管理系统
分享
相关推荐
静态随机存储器总剂量辐射效应及评估技术的研究
作者:
李茂顺
出版年:
2010
静态随机存储器总剂量辐射效应及损伤机理的研究
作者:
卢健
出版年:
2012
静态随机存储器总剂量辐射损伤机制及试验方法研究
作者:
郑齐文
出版年:
2015
静态随机存储器抗总剂量辐射性能无损筛选方法研究
作者:
于跃
出版年:
2009
CMOS/SOI 64Kb 静态随机存储器研究-器件模型、工艺研制、电路设计和测试以
作者:
刘新宇
出版年:
2001
SRAM型FPGA器件总剂量辐射效应及评估技术的研究
作者:
高博
出版年:
2011
×
访问借阅管理系统