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Testing reliability and applications of optoelectronic devices : 24-26 Jan. 2001 San Jose USA
出版社:
Bellingham, Wash. : SPIE, c2001.
ISBN:
0819439630
出版年:
2001
作者:
Chin,Aland K.
资源类型:
图书
细分类型:
西文文献
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