半导体集成电路的可靠性及评价方法

半导体集成电路的可靠性及评价方法

出版社：电子工业出版社

ISBN：9787121271601

出版年：2015

作者：章晓文

学科：电技术、电子技术

资源类型：图书

细分类型：中文文献

1浏览量

问图书管理员

点赞

收藏

访问借阅管理系统

集成电路可靠性

作者：上海冶金研究所
出版社：上海冶金研究所
出版年：1972

集成电路封装可靠性技术

作者：周斌
ISBN：9787121461514
出版社：电子工业出版社
出版年：2023

ECL集成电路可靠性的热电综合分析方法

作者：顾志忠
出版年：1989

半导体器件及电路的可靠性与退化

作者：豪斯
ISBN：7030011643
出版社：科学出版社
出版年：1989

半导体工艺可靠性

作者：甘正浩
ISBN：9787111764946
出版社：机械工业出版社
出版年：2024

半导体器件可靠性

作者：半导体器件可靠性编写组
出版社：国防工业出版社
出版年：1978