登录
机构网站
切换导航
首页
到馆服务
学科服务
研究支持
情报产品
数据资源
科学传播
关于我们
首页
馆藏纸本
图书详情
温度对微电子和系统可靠性的影响
出版社:
国防工业出版社
ISBN:
9787118054842
出版年:
2008
作者:
拉尔
学科:
电技术、电子技术
资源类型:
图书
细分类型:
中文文献
1浏览量
问图书管理员
馆际互借
点赞
收藏
访问借阅管理系统
分享
相关推荐
微电子器件可靠性
作者:
史保华
ISBN:
7560607195
出版社:
西安电子科技大学出版社
出版年:
1999
微电子技术的可靠性 :互连、器件及系统 :interconnects, devices and systems
作者:
刘建影
ISBN:
9787030376060
出版社:
科学出版社
出版年:
2013
微电子封装和集成的建模与仿真 :制造、可靠性和测试 :manufacturing, reliability
作者:
刘胜
ISBN:
9787122392275
出版社:
化学工业出版社
出版年:
2021
微电子封装组件的建模和仿真 :制造、可靠性与测试 :manufacturing, reliability and
作者:
刘胜
ISBN:
9787122123725
出版社:
化学工业出版社
出版年:
2012
微电子器件应用可靠性技术
作者:
庄奕琪
ISBN:
7505336444
出版社:
电子工业出版社
出版年:
1996
电子微组装可靠性设计, 应用篇
作者:
何小琦
ISBN:
9787121425776
出版社:
电子工业出版社
出版年:
2022
×
访问借阅管理系统