SiC/GaN功率半导体封装和可靠性评估技术

出版社:机械工业出版社
ISBN:9787111669531
出版年:2021
作者:菅沼克昭
学科:电技术、电子技术
资源类型:图书
细分类型:中文文献
相关推荐

功率半导体器件 :封装、测试和可靠性

  • 作者:邓二平
  • ISBN:9787122449344
  • 出版社:化学工业出版社
  • 出版年:2024

功率半导体器件 :原理、特性和可靠性

  • 作者:Lutz
  • ISBN:9787111417279
  • 出版社:机械工业出版社
  • 出版年:2013

功率半导体器件:原理、特性和可靠性

  • 作者:(德)卢茨(Lutz.J.)等著
  • 出版社:机械工业出版社
  • 出版年:2014

功率半导体器件 :原理、特性和可靠性 :physics, characteristics, reliability

  • 作者:卢茨
  • ISBN:9787111640295
  • 出版社:机械工业出版社
  • 出版年:2020

半导体工艺可靠性

  • 作者:甘正浩
  • ISBN:9787111764946
  • 出版社:机械工业出版社
  • 出版年:2024

半导体器件可靠性

  • 作者:半导体器件可靠性编写组
  • 出版社:国防工业出版社
  • 出版年:1978