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SiC/GaN功率半导体封装和可靠性评估技术
出版社:
机械工业出版社
ISBN:
9787111669531
出版年:
2021
作者:
菅沼克昭
学科:
电技术、电子技术
资源类型:
图书
细分类型:
中文文献
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