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Submicrometer metallization : the challenges opportunities and limitations : 23-25 September 1992

出版社：Bellingham, Wash., USA : SPIE, c1993.
ISBN：0819410039
出版年：1993
作者：Kwok,Thomas.
资源类型：图书
细分类型：西文文献
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  • 出版社：Bellingham, Wash. : SPIE, c1992.
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Large scale systems : theory and applications : IFAC/IFORS/IMACS symposium, Aug. 23-25, 1992 Beijing
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2008 Biometrics Symposium (BSYM) : Tampa, Florida, 23-25 September 2008.
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  • 出版社：Piscataway, N.J. : IEEE, c2008.
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