登录
机构网站
切换导航
首页
到馆服务
学科服务
研究支持
情报产品
数据资源
科学传播
关于我们
首页
馆藏纸本
图书详情
ESSENTIAL OF ELECTRONIC TESTING for Digital Memory and Mixed-Signal VLSI Circuits
出版社:
Kluwer Academic Publishers, 2000.
ISBN:
9780792379911
出版年:
2000
作者:
M. Bushnell and Vishwani Agrawal.
资源类型:
图书
细分类型:
馆内阅览
1浏览量
问图书管理员
馆际互借
点赞
收藏
访问借阅管理系统
分享
相关推荐
Mixed-signal circuits
作者:
Noulis,Thomas,
ISBN:
9781482260625
出版社:
Boca Raton, FL : CRC Press/Taylor & Francis, 2016.
出版年:
2016
VLSI custom microelectronics : digital, analog, and mixed-signal
作者:
Hurst,Stanley L.
ISBN:
0824702204
出版社:
New York : Marcel Dekker, c1999.
出版年:
1999
VLSI testing : digital and mixed analogue/digital techniques
作者:
Hurst,Stanley L.
ISBN:
0852969015
出版社:
London : The Institute of Electrical Engineers, c1998.
出版年:
1998
Test and design-for-testability in mixed-signal integrated circuits
作者:
edited by Jos鈋 L. Huertas.
ISBN:
1402077246 RMB
出版社:
Boston, Mass. : Kluwer Academic Publishers, c2004.
出版年:
2004
Test and design-for-testability in mixed-signal integrated circuits
作者:
edited by Jos鈋 L. Huertas.
ISBN:
1402077246
出版社:
Boston, Mass. : Kluwer Academic Publishers, c2004.
出版年:
2004
Mixed signal VLSI wireless design : circuits and systems
作者:
Farag,Emad N.
ISBN:
0792386876
出版社:
Boston : Kluwer Academic Publishers, 2000.
出版年:
2000
×
访问借阅管理系统