登录
机构网站
切换导航
首页
到馆服务
学科服务
研究支持
情报产品
数据资源
科学传播
关于我们
首页
馆藏纸本
图书详情
Test generation of crosstalk delay faults in VLSI circuits
出版社：
Singapore : Springer, 2019.
ISBN：
9789811324925
出版年：
2019
作者：
Jayanthy,S,
资源类型：
图书
细分类型：
西文文献,馆内阅览
1浏览量
问图书管理员
馆际互借
点赞
收藏
访问借阅管理系统
分享
相关推荐
Delay fault testing for VLSI circuits
作者：
Krstić,Angela,
ISBN：
0792382951
出版社：
Boston : Kluwer Academic Publishers, c1998.
出版年：
1998
Test and diagnosis for small-delay defects
作者：
Tehranipoor,Mohammad H.,
ISBN：
9781441982964
出版社：
New York : Springer, c2011.
出版年：
2011
The design and analysis of VLSI circuits
作者：
Glasser,Lance A.
ISBN：
0201125803
出版社：
Reading, Mass. : Addison Wesley, c1985.
出版年：
1985
Interconnection noise in VLSI circuits
作者：
Moll,Francesc.
ISBN：
1402077335
出版社：
Boston : Kluwer Academic Publishers, c2004.
出版年：
2004
Design methodologies for VLSI circuits
作者：
NATO Advanced Study Institute on "Design Methodologies for VLSI Circuits"
ISBN：
9028627812
出版社：
Alpen aan den Rijn, The Netherlands ; Rockville, Md., U.S.A : Sijthoff & Noordhoff, 1982.
出版年：
1982
VLSI circuits and systems in silicon
作者：
Brown,Andrew,
ISBN：
0077072219
出版社：
London ; New York : McGraw-Hill, c1991.
出版年：
1991
×
访问借阅管理系统
问图书管理员
馆际互借