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Scanning probe microscopy : characterization nanofabrication and device application of functional m
出版社：Dordrecht ; Boston : Kluwer Academic Publishers, c2005.
ISBN：1402030177
出版年：2005
作者：NATO Advanced Study Institute on Scanning Probe Microscopy: Characterization,Nanofabrication and De
资源类型：图书
细分类型：西文文献
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